详细摘要: ZDL-Ⅲ中空玻璃露点仪采用半导体制冷方法是根据国家标准GB/T 11944—2002规定的技术条件制造的一种仪器。用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方...
产品型号:ZDL-Ⅲ所在地:北京市更新时间:2023-08-20 在线留言通信电缆 网络设备 无线通信 云计算|大数据 显示设备 存储设备 网络辅助设备 信号传输处理 多媒体设备 广播系统 智慧城市管理系统 其它智慧基建产品
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